二次离子质谱仪是用来检测材料的一种仪器，即是利用离子束把待分析的材料从表面溅射出来，然后再检测出离子组分并进行质量分析，它是对微粒进行同位素分析的有力工具，但它不能直接分辨同量异位数和确认元素。下面进行二次离子质谱仪市场规模分析。

　　二次离子质谱仪，是最前沿的表面分析技术。二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成，其信息量也远远超过了简单的元素分析，可以用于鉴定有机成分的分子结构。广泛应用于微电子技术、化学技术、纳米技术以及生命科学之中，它可以在数秒内对表面的局部区域进行扫描和分析，生成一个表面成分图。

　　是利用质谱法分析初级离子入射靶面后，溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。二次离子质谱可以分析包括氢在内的全部元素，并能给出同位素的信息、分析化合物组分和分子结构。二次离子质谱具有很高的灵敏度，可达到ppm甚至ppb的量级，还可以进行微区成分成像和深度剖面分析。

　　通过对二次离子质谱仪市场规模分析，用一次离子束轰击表面，将样品表面的原子溅射出来成为带电的离子，然后用磁分析器或四极滤质器所组成的质谱仪分析离子的荷/质比，便可知道表面的成份;

　　非常灵敏的表面成份分析手段，对某些元素可达到ppm量级;但由于各种元素的二次离子差额值相差非常大，作定量分析非常困难。Hiden Analytical生产的SIMS Workstation通过SNMS可以做到很好的定量，SNMS分析样品表面溅射出来的中性粒子(占到溅射出来的粒子总数的95%以上)，用来做定量，误差非常小。

　　通过对二次离子质谱仪市场规模分析，二次离子质谱仪在过去十几年中已取得突破性进展。它的质量范围展宽近一个数量级，商业化仪器的质量上限已从几年前的100。达到现在的约10000。它广泛使用解吸电离方法，包括快原子轰击(FAB)、次级离子质谱仪(SIMS)和裂变碎片法等，这就允许检测离子化的非挥发性化合物。

　　它成功地组合分离和分析技术，提供了全新的能力。它已用于生物和环境研究，来标征包括痕量成分在内的混合物组成、蛋白质结构测定、酶化学、光合作用和碳记年中。在化学分析领域之外，它已用于研究气相酸度、碱度和有机反应机制。以上便是二次离子质谱仪市场规模分析的所有内容了。